Сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ) применяется в современной физике, химии, материаловедении, биологии, медицине и на высокотехнологичном производстве. В Студии Лебедева спроектирован интерфейс программы управления зондовыми микроскопами, с помощью которой ученые, инженеры и технологи настраивают эти сложные приборы и получают СЗМ-изображения для решения задач исследования, проектирования, диагностики, контроля качества. Полученные изображения подвергаются дальнейшей обработке в отдельном интерфейсе обработки и анализа, также разработанном в Студии Лебедева.
Принцип работы сканирующего зондового микроскопа
В сканирующих зондовых микроскопах исследование микрорельефа поверхности и ее локальных свойств проводится с помощью специальных зондов в виде игл. Рабочее острие таких зондов имеет размеры порядка 10 нм (0,00001 мм). Характерное расстояние между зондом и поверхностью образцов в зондовых микроскопах составляет 0,110 нм.



В основе работы зондовых микроскопов лежат различные типы взаимодействия зонда с поверхностью. В самом простом случае острие зонда находится в непосредственном соприкосновении с исследуемой поверхностью. Зондовый датчик движется вдоль поверхности, при этом регистрируется изменение изгиба кантилевера или других величин, пропорциональных взаимодействию зонда и исследуемого образца.